山东十一选五出什么号码: J200飛秒激光剝蝕固體進樣系統

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LA-ICP-MS 的量子級飛躍
       J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發展的重大突破。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下,均勻剝蝕樣品成透明狀,這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性,這是采用長脈沖激光技術無法達到的。
 
 
LA-ICP-MS 的量子級飛躍

       J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發展的重大突破。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下,均勻剝蝕樣品成透明狀,這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性,這是采用長脈沖激光技術無法達到的。
 
減少樣品的依賴性,比霧化技術精度高

       J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高,且沒有熱效應。而采用長激光脈沖的系統,會發生的多種熱過程,改變剝蝕樣品的數量和化學成分,如改變熱特性等;并且無論采用什么波長,如266nm, 213nm 或193nm, 為了準確定量的分析元素和同位素,需要高精度的、與測量樣品相匹配的標準物質。
 
       J200LA-fs剝蝕均勻一致,剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性,無需高度匹配的標準物質,也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。
 
均勻一致的粒徑確保高精度、高靈敏度測量

       長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大(常大于數微米),駐留在輸送管中,導致運輸效率低,并且降低了分析的靈敏度。大樣品顆?;夠嵩贗CP-MS的瞬時信號中產生峰值,導致測量精度降低。J200系統產生的樣品顆粒均勻一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,運輸效率高。這些到達ICP源的顆粒能完全被消解,產生穩健、恒定的瞬時ICP-MS信號。用戶可完全依靠J200系統輸送高質量的樣品顆粒到ICP-MS 系統。
 
 
元素和同位素的分餾最少

       在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程:(1)非化學計量物質剝蝕的熱過程;(2)大樣品顆粒在ICP源不完全消解。J200施加高能激光的時間比長脈沖系統短,最短達1/10000。J200LA-fs系統通過非熱過程,施加超高激光輻射剝蝕樣品,產生的顆粒能在ICP源完全消解,確保在測量過程中獲取高精度、穩定的元素或同位素信號。
 
高精度元素和同位素測量的保障
       ASI公司的技術團隊擁有30多年激光剝蝕技術的基礎研究經驗和LA-ICP-MS方法的研究背景,也是世界首個在LA-ICP-MS系統中采用飛秒激光脈沖,并實現其卓越性能的公司。J200LA-fs系統能完成最具挑戰性的化學分析工作。來自ASI公司嚴謹的科研和技術支持是其它技術無法達到的。使用ASI公司的產品,意味著能直接和世界頂級的研究團隊交流,并得到專業的技術支持。
 

強大的∫ Integra軟件與ICP-MS儀器協同操作
       J200LA-fs系統軟件∫ Integra功能直觀、帶圖形界面,易瀏覽不同的樣品區域,設立靈活的采樣方式。∫ Integra采用雙向通信控制,協同操作ICP-MS儀器達到了史無前例的水平。∫ Integra軟件讓用戶通過基本單元“處方”來制定各個硬件工作的時間序列命令集,并通過串聯多個“處方”,讓系統自動完成各個測量工作。
硬件控制簡單、方便
       ∫ Integra軟件使J200LA-fs用戶簡單、方便地操作硬件部件。只需簡單點擊tab鍵,用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統、光???、3-D操作臺、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態,不同用戶組可賦予不同的使用權限。
 
獲取勾邊樣品圖像,制定復雜的激光采樣模式

       ∫ Integra 軟件提供大的視頻窗口,顯示勾邊的、詳細的樣品圖像。用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式,包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式。即使是形狀怪異的結構,采用∫ Integra的模式工具也可選定,并分析其元素或同位素。
 
雙照相系統掃描樣品

       J200LA-fs 的兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像。∫ Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像,然后在圖像上掃視不同的位置,高倍放大選定點。
 
智能氣流控制,最大限度地獲取ICP-MS等離子體的穩定性和分析性能

       ∫ Integra具備智能輸送和補充氣控制功能,使每種氣體按預定的方式達到設定值,同步開關確保穩定的ICP-MS等離子體狀態,防止等離子體火焰噴出。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。
 
“處方”功能讓系統自動運行

       用戶可將多個硬件部件運行命令集合,并按時間順序排列,形成∫ Integra“處方”。制定完成的處方,以后也可以調用。多個處方可編制成組,自動順序執行,使測量工作高度自動化。
可簡單采用“recall”命令調用“處方”,重復實驗,也可復制部分“處方”,結合新的命令,完成新的采樣過程。

主要技術指標

激光器 工業級高頻Ytterbium diode飛秒激光器,343 nm和1030 nm,頻率可調,最大10KHz
能量控制 連續可調光學衰減器,集成激光能量監測單元
激光光閘 自動光閘保證激光能量穩定
激光脈沖能量(激光頭輸出) 最大150µJ/脈沖 @ 343 nm* ,最大 1mJ/脈沖 @ 1030 nm
激光光斑大小控制 3-70微米,結合了自動光束擴展器和狹縫成像
光斑大小范圍取決于不同設備的型號,可用戶自定義光斑大小范圍
自動X-Y軸 100 mm X 100 mm 行程范圍,分辨率0.2微米
自動Z軸 35mm行程范圍,Z軸可以實現樣品自動高度調整,分辨率0.5微米
剝蝕點定位 紅色激光具有更好的信號精度,ASI的自動對焦專利技術
樣品圖像 高分辨率的雙CMOS鏡頭,用于高倍放大和大視野預覽,支持光學變焦
樣品成像光源 泛光LED燈,同軸反射光和透明光源,正交十字光
氣體控制 雙路數字流量控制器,可選第三個流量控制器(用于氮氣或其他氣體)
電控兩向和三向閥,ASI專利氣體控制單元
樣品室 Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片,適合不同大小的樣品
Vertex™樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運送能力
可用戶自定義樣品固定裝置,ASI專利LIBS測量兼容性
與ICP-MS通訊 在J200和ICP-MS之間實現雙向控制
LIBS檢測器
 (僅適用于Tandem系統)
Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器
儀器軟件 Axiom LA系統操作軟件,ASI專利的TruLIBS™發射光譜數據庫(用于Tandem系統)
Clarity Femto數據處理軟件(處理LA-ICP-MS和LIBS的數據,進行定量計算/物質分類)
激光安全等級 一級激光產品,樣品加載區域有光學安全隔離板,激光自鎖?;ぷ爸?/span>
系統尺寸 70” (長) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機)
75” (長) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器)
重量 600 lbs [272Kg](僅LA主機);600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器)
供電要求 110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A
質保 所有硬件和軟件質保一年,飛秒激光器質保兩年
認證 CE認證
可選項 LA升級為Tandem系統
延保 可簽署多年質保和服務協議
* 通常作用在樣品表面的激光能量大約是20-80 µJ
 
應用案例
植物樣品表層及深層元素分布
       采用飛秒LA-ICP-MS系統還可以對植物葉片進行深度的剖析。測量葉片內部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。實驗使用飛秒激光器,10個脈沖,脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內部。

 
大米和糙米樣品外殼及內部砷元素的分布圖譜

       大米是中國、韓國和日本等東亞諸國的主要農作物,大米中砷元素含量超標引發了很多食品安全問題。國際食品法典委員會標準中也明確規定鉛含量不得大于0.2mg/kg ,鎘含量不得大于0.1mg/kg,但仍然對砷元素含量無規定。為了建立相關標準,韓國科學技術研究院搜集了韓國市場上常見的100種大米和糙米樣品,分析其中砷元素的含量及分布作為相關標準制定的科學依據。研究結果表明,砷元素主要分布在糙米和大米樣品的表面,并存在砷元素含量明顯的向中心遞減趨勢。結論:砷元素主要分布在大米和糙米的表面,打磨是降低砷元素含量的主要手段。
 
產地:美國

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